【技術文章】基於 NI PXI 之多元硬體迴路即時模擬測試系統以車輛領域為例
本文將會從控制器開發的需求出發，介紹硬體迴路即時模擬的概念。基於NI PXI系統提供多元的測試方式，可符合包含開發與測試、實驗室與實車測試等不同層面之需求，並藉由案例來了解如何將硬體迴路即時模擬測試系統導入到實際的應用來解決問題。
【技術文章】Speos在雷射雷達領域的模擬應用
研發人員透過模擬設計產品的性能表現，無需投入物理原型即可優化產品的實際性能。近些年，精准光學模擬，例如車載汽車雷達的模擬、新材料在汽車照明與顯示、工業產品的視覺感受，以及光和顏色的控制等領域的應用，對光學模擬軟體提出了更高的要求。
【技術文章】淺談主動電路與無線傳能的電磁模擬分析技術
隨著5G和6G等無線通信技術的發展，主動電路和無線傳能系統的工作頻率越來越高。這將需要更精確的電磁模擬分析，以應對高頻信號的特性和干擾，它涵蓋了電子電路設計和無線能量傳輸兩個關鍵方面。本文深入探討電磁模擬分析、Ansys Circuit and Dynamic Link、主動電路分析、介紹無線充電、無線充電傳輸分析及無線充電系統設計。
【技術文章】如何執行符合ISO26262標準之相依性失效分析(DFA)
依據ISO26262車輛功能安全標準，若需要符合設計架構的獨立性(independence) 或免於干擾性(freedom of interference)的條件，則必需證明相依性失效(dependent failure)，即連鎖性失效(cascading failure)以及共因失效(common cause failure)均已被妥善的管控，為此標準要求需透過執行相關失效分析(Dependent Failure Analysis，DFA)提供相關的符合性證據。
【技術文章】半導體製程中的關鍵探針測試分析
探針測試(Chip probe test)是在晶片檢測出與設計電性規範不符的缺陷，該測試在半導體製造過程中對產品品質監控有著非常重要的作用。本文將從簡介晶片探針測試流程出發， 再分享如何以Ansys Mechanical進行檢測過程中的探針機械強度分析及利用參數化流程做最佳化設計。
