思渤科技在本次研討會中特別邀請國立成功大學機械工程學系-劉建聖教授分享幾何光學量測技術在長行程定位誤差量測限制。
內容提到目前國內外對於線性軸長行程定位誤差量測依賴雷射干涉儀,但由於線性軸無論移動到任何位置皆會產生六個自由度幾何運度誤差,其原因是因為雷射干涉儀量不同誤差時需搭配不同鏡組再加上由於光線對準的過程非常耗時及操作高精密儀器的難度,因此在幾何光學測量在長行程的定位上常造成六個自由度的幾何運度誤差,也因為變換不同鏡組導致增加測量成本 。
劉建聖教授在研究內容中提到使用 Ansys Zemax 光學模擬軟體建立模擬參數及建立分析模型,藉此解決幾何光學量測技術在長行程定位誤差量測並節省了光線校正的時間與成本。
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