CYBERNET SYSTEMS 與半導體廠商合作研發針對 OLED 顯示器的 Mura 補償 IC
2017.02.15
CYBERNET SYSTEMS 株式會社(總公司:日本東京,CEO 兼總經理:田中邦明,以下簡稱 CYBERNET)與多家大型半導體廠商攜手合作,共同研發針對 OLED 顯示器具有 Mura 補償功能IP(※1)的顯示器驅動 IC(※2)。
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通過此次合作研發,能夠將本集團自主研發的 Mura 補償功能IP最佳化整合到顯示器驅動 IC 上。顯示器廠商可方便地應用優異的 Mura 補償功能,結合使用 CYBERNET 提供的 FPiS™ 系列自動 Mura 補償設備來提高產品品質,改善成品率,從而實現穩定的高品質產品生產,加快產品的市場投放。
此次研發的具有 Mura 補償功能的顯示器驅動 IC 預定於2017年6月開始由多家大型半導體廠商以通用型 IC 及針對特定客戶的定制 IC 方式供貨,在後續的系列產品中將繼續採用相同的 IP 提供 Mura 補償功能。有關產品的最終技術規格、銷售客戶及開始銷售的具體時期,在明確下來後另行通知。
光學自動檢測設備 FPiS™ 系列是什麼
作為適用於液晶及 OLED 等高解析度顯示器的高精度及高速自動檢測、調試系統,FPiS 系列產品從 FPD 的研發階段到工廠生產提供了整套的自動光學測試解決方案。採用本產品後,可以縮短產品研發週期,提高生產效率及產品品質。
針對OLED顯示器,不僅有可以提高畫質的 Mura 補償裝置,也有從 Cell 生產到成品出廠前檢查過程中,對應各工序需求的各種解決方案。
CYBERNET SYSTEMS 常務執行董事吉永弘希先生的評論
「CYBERNET 利用迄今為止在實際業務中所積累和掌握的光學技術和影像處理技術知識,研發出了針對 FPD(Flat Panel Display:平面顯示器)的光學檢測、調試系統及 Mura 補償功能 IP,很榮幸能夠將這些產品投入市場,為顯示幕相關廠商的業務發展起到一定的幫助作用。通過本次合作研發,全球的有機 EL 顯示幕廠商有望儘快購買到具有 Mura 補償功能的通用 IC,以此提高產品品質和良率,促進有機 EL 顯示幕市場的進一步發展。」
注釋
※1:Mura 補償功能 IP:根據顯示器的顯示特性設置相應的補償值進行補償,可減少顯示 Mura 的積體電路
※2:顯示器驅動 IC:主要控制顯示器顯示功能的積體電路
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※CAE(Computer Aided Engineering)是指,在「產品製造」的研發過程中,通過電腦中的模型對傳統以試製品進行的測試及實驗進行模擬分析的技術。通過採用這項技術,在大幅減少試製及實驗次數的同時,還能從多方面預測和解決各種問題,極大地減少了試製實驗產生的廢料,有助於實現環保型「產品製造」。