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QE-2000 量子效率量測系統

Otsuka QE-2000 系列,內建積分半球,並採用多通道分光光譜儀,將紫外光波段的雜散光影響降到最低,以及使用再激發校正去除二次激發的影響,可量測多種形式的樣品,例如:溶液、粉體、固體與薄膜,各種分析功能與簡便的操作,協助您獲得螢光粉特性的實際值。
 
產品特點
  • 藉由絕對量子效率量測內部量子產率、外部量子效率
  • 可量測粉體、固體、液體、薄膜樣品量子效率
  • 採用多通道分光光譜儀,可大幅降低紫外波長的雜散光
  • 搭配積分半球系統(HalfMoon),可消除再激發的螢光發光
  • 激發光源採用光柵搭配濾光鏡分光,可任意選擇波長
  • All in one,操作性優良的光學系統(QE-2000)
  • 備有可自動變溫量測(~ 300℃)的溫控套件 (QE-2100)
  • 使用 BaSO 校正精度與量測再現性
  • 另有涵蓋近紅外光量子效率機型 (QE-5000)
 
規格
降低雜散光的多通道分光光譜儀
波長範圍
250nm ~ 800nm
光譜儀分光元件
Flat-Field 型,F=3f=85.8mm
感光元件
電子冷卻型 CCD 影像感測器
激發光源系統
激發光源套件
150W 氙燈 分光光柵
激發波長範圍
250 ~ 800nmFWHM=5nmSlit=0.6mm
波長掃描方式
與 PC 設定波長連動,付防止樣品光劣化自動快門
其它
積分半球設備(HalfMoon)
積分球尺寸:Φ150mm 半球 內面材質:鐵氟龍
電源
AC輸入
AC100 ~ 120VA / AC200 ~ 230V
 
系統架構圖

QE-2000


 


積分半球系統

應用範圍

  • LED、OLED 用螢光粉體絕對量子效率量測
  • 受紫外光激發的螢光量子效率量測
  • 薄膜樣品的透射螢光光譜量測,非接觸式螢光粉( Remote Phosphor)所使用之擴散膜等
  • 量子點、螢光探針、生物發光、包藏化合物等螢光頻譜量測
  • LB 膜、機能性高分子膜螢光頻譜量測
  • 溫度控制機能(50 ~ 300℃),可量測量子效率(量子產率)對溫度的變化(QE-2100)
  • 對應紫外光到近紅外光(NIR)的寬闊範圍(300 ~ 1600nm)(QE-2100、QE-5000)
  • 採用高感度 NIR 分光器,可量測0.01% 以下的單重態氧(1270nm放光) 產生的量子產率(QE-5000) 
  

    服務信箱
業務聯絡:optical@cybernet-ap.com.tw
技術支援:optiservice@cybernet-ap.com.tw  
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